]> git.karo-electronics.de Git - linux-beck.git/commit
pinctrl: samsung: Remove an always false dev->of_node test
authorSylwester Nawrocki <s.nawrocki@samsung.com>
Thu, 1 Sep 2016 11:59:00 +0000 (13:59 +0200)
committerLinus Walleij <linus.walleij@linaro.org>
Mon, 12 Sep 2016 13:45:16 +0000 (15:45 +0200)
commitb09eed7f811de64f1352634baa48ca8aecddac51
tree066ecf813ec80b059bfbdbdd1252b8cffeb705a4
parentc11a0442b0fe01244de09849f62a0370482a0196
pinctrl: samsung: Remove an always false dev->of_node test

samsung_pinctrl_probe() can be called only after matching
the driver by the compatible string so this already implies
a non null dev->of_node.  Remove the always false test
and related error trace. While at it drop another error log
in case of memory allocation failure - any errors are logged
by the memory subsystem.

Signed-off-by: Sylwester Nawrocki <s.nawrocki@samsung.com>
Reviewed-by: Krzysztof Kozlowski <k.kozlowski@samsung.com>
Signed-off-by: Linus Walleij <linus.walleij@linaro.org>
drivers/pinctrl/samsung/pinctrl-samsung.c