]> git.karo-electronics.de Git - karo-tx-linux.git/commitdiff
crypto: testmgr - fix overlap in chunked tests again
authorArd Biesheuvel <ard.biesheuvel@linaro.org>
Thu, 8 Dec 2016 08:23:52 +0000 (08:23 +0000)
committerHerbert Xu <herbert@gondor.apana.org.au>
Thu, 8 Dec 2016 12:14:59 +0000 (20:14 +0800)
Commit 7e4c7f17cde2 ("crypto: testmgr - avoid overlap in chunked tests")
attempted to address a problem in the crypto testmgr code where chunked
test cases are copied to memory in a way that results in overlap.

However, the fix recreated the exact same issue for other chunked tests,
by putting IDX3 within 492 bytes of IDX1, which causes overlap if the
first chunk exceeds 492 bytes, which is the case for at least one of
the xts(aes) test cases.

So increase IDX3 by another 1000 bytes.

Signed-off-by: Ard Biesheuvel <ard.biesheuvel@linaro.org>
Signed-off-by: Herbert Xu <herbert@gondor.apana.org.au>
crypto/testmgr.c

index 7eb423f0b1f0ea2e42d5ce5d7af7184b94b23d82..f616ad74cce756fb2d0a0657d153483ed05f56d7 100644 (file)
@@ -63,7 +63,7 @@ int alg_test(const char *driver, const char *alg, u32 type, u32 mask)
  */
 #define IDX1           32
 #define IDX2           32400
-#define IDX3           511
+#define IDX3           1511
 #define IDX4           8193
 #define IDX5           22222
 #define IDX6           17101